Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Trạng thái: Đăng ký xem Recorded Video

Chủ đề: TESCAN CLARA thế hệ mới nhất - một SEM có độ phân giải siêu cao (UHR), cung cấp năng lực phân tích bề mặt thang nano nhanh chóng, chính xác và toàn diện cho mọi vật liệu.

Topic: Introducing Latest generation TESCAN CLARA: UHR SEM for quick, accurate, and comprehensive nanoscale surface analysis of any mat

Trong lĩnh vực Khoa học vật liệu, dữ liệu thu được ở nhiều thang phóng đại (Magnification) đều cung cấp thông tin quan trọng. Nhiều loại vật liệu có cấu trúc đặc biệt ở thang nano đang được phát triển nhằm nâng cao chất lượng cuộc sống của chúng ta.

Các kim loại chịu ứng suất phụ thuộc rất nhiều vào thành phần pha, cấu trúc micron và sub-micron của chúng. Thành phần hóa học và kích thước của chúng đóng vai trò quan trọng trong hiệu suất cơ học của kim loại. Ngoài ra, nhiều loại sợi nano, ống nano và các cấu trúc nano khác được nghiên cứu và phân tích về kích thước, hình dạng ở thang nano. Cuối cùng, không kém phần quan trọng, là các quá trình phân hủy và các pha hóa học trong vật liệu năng lượng ở các anode và cathode đang được nghiên cứu để sản xuất năng lượng sạch. Lãnh vực này và nhiều lãnh vực khác yêu cầu sử dụng Kính hiển vi điện tử quét độ phân giải siêu cao (UHR SEM) làm công cụ cung cấp dữ liệu nhanh chóng, chính xác và toàn diện, cho phép đưa ra các quyết định và giải pháp kịp thời về chất lượng, nguyên nhân gốc rễ của lỗi và/hoặc tối ưu hiệu suất của nhiều vật liệu.

TESCAN CLARA UHR SEM là một giải pháp phù hợp có thể giải quyết được tất cả các thách thức nêu trên. CLARA cung cấp nhiều phương pháp tương phản chưa từng có, có thể được sử dụng để cung cấp các thông tin toàn diện của mọi vật liệu mà không cần chuẩn bị mẫu trước. Ngoài ra, CLARA được thiết kế linh hoạt và cấu trúc mở, giúp mở rộng khả năng nghiên cứu vật liệu ngoài hình ảnh tương phản điện tử.

Trong hội thảo trực tuyến này, Petr Klimek, Product Marketing Director của TESCAN sẽ chỉ ra cách CLARA có thể giải quyết các thách thức khi nghiên cứu vật liệu ở thang nano. Bên cạnh đó, Petr Klimek sẽ trình bày cách TESCAN CLARA được sử dụng để giải quyết các trường hợp khác nhau trong Phân tích lỗi (F.A), nghiên cứu Khoa học vật liệu (Material Science) và nghiên cứu Pin (Vật liệu năng lượng)...

_______________________

KHU VỰC ĐĂNG KÝ: