Kính hiển vi điện tử quét

Kính hiển vi điện tử quét SEM là gì ?

Kính hiển vi điện tử quét TESCAN CLARA SEMKính hiển vi điện tử quét SEM (Scanning Electron Microscopy) là một kỹ thuật kiểm tra / phân tích không phá hủy nổi tiếng, kỹ thuật SEM sử dụng một đầu dò là chùm điện tử (electron), quét trên bề mặt mẫu, xuống độ phân giải thang nm (nanomet): [1nm =10-9m].

Kính hiển vi điện tử quét tạo hình ảnh có độ phóng đại lớn (hàng chục nghìn, hàng trăm nghìn lần), độ phân giải cao (nm). Khả năng này đưa Kính hiển vi điện tử quét trở nên phù hợp cho nhiều lãnh vực khoa học và ứng dụng công nghiệp.

Ứng dụng của kính hiển vi điện tử quét SEM

Polymer CompositeKính hiển vi điện tử quét SEM, FESEM, FIB-SEM cung cấp nhiều thông tin hữu ích cho nhiều lãnh vực khoa học và công nghiệp. Ứng dụng từ lãnh vực Khoa học vật liệu, đến Khoa học sự sống, điện tử - bán dẫn, đến khoa học trái đất và tài nguyên thiên nhiên,...

Kính hiển vi điện tử quét SEM đang dần phổ biến tại Việt Nam. SEM đã trở nên phổ biến hơn trong các nhà máy công nghiệp, nhất là các nhà máy có vốn đầu tư nước ngoài trong các lãnh vực liên quan Điện tử, Bán dẫn, Chế tạo vật liệu tiên tiến, hàng tiêu dùng,...

Vui lòng truy cập thêm vào các bài viết được mô tả dưới đây:

Phân biệt SEM, FEG-SEM, FIB-SEM

EBSD maps of a setSEM là từ viết tắt của Scanning Electron Microscopy, tên tiếng Việt là Kính hiển vi điện tử quét. Là một thiết bị hỗ trợ kiểm tra / phân tích không phá hủy nổi tiếng, SEM sử dụng một đầu dò là chùm điện tử (electron), quét trên bề mặt mẫu, xuống độ phân giải thang nm (nanomet): [1nm =10-9m]. Nguồn phát xạ điện tử phổ biến là sợi đốt Tungsten Filament (phát xạ nhiệt).

FEG-SEM (hay FE-SEM) cũng là Kính hiển vi điện tử quét, loại sử dụng nguồn phát xạ trường, tên tiếng Anh là Field Emission Scanning Electron Microscope. Năng lực phân giải của FEG-SEM tốt hơn Tungsten SEM, người ta còn gọi là Kính hiển vi điện tử quét độ phân giải cao.